提供简易的数据管理与统计分析平台，可自定义报表，帮助工程团队更快发现制程波动与良率趋势。
Kyber Analysis
Kyber Analysis
把现场数据、良率数据、设备状态与经营指标汇聚到同一分析界面，帮助工厂更快发现异常、定位问题并形成改善闭环。
Analysis Focus
面向良率、制程与设备的数据分析能力
- 支持自定义统计分析组件与报表呈现
- 支持 Wafer Map、YMS、FDC 等分析场景
- 帮助缩短不明良率下降时的诊断时间
CORE VALUE
Kyber Analysis 核心价值
支持根据不同数据源自动以圆形或方形方式呈现 Wafer Map，适用于半导体、封测、PCB 与新能源场景。
帮助工程师从纠正性维护走向预测性维护，在异常告警、快速诊断与设备可靠性之间建立更主动的分析机制。
YMS ANALYTICS
YMS 良率分析
YMS 良率分析管理系统提供简易的数据管理统计分析平台，并可自定义报表，协助改善制程问题、提升分析效率，缩短不明良率下降时的制程问题诊断时间。
- 支持自定义统计分析组件与报表呈现方式
- 适合围绕 Daily Reports、Control Chart、Histogram、Scatter 等视图组织分析结果
- 帮助工程团队更快识别制程波动、批次差异与异常趋势
WAFER MAP
Wafer Map 呈现
YMS 良率分析管理系统也提供 Wafer Map 的平坦性分析需求，适合应用在半导体、封测、PCB、新能源等不同产业。
Wafer Map 可以根据数据源自动以圆形或方形呈现，并把后道 CP Test 结果整合到统一的数据分析报表平台中。
- 支持 Phase 1 所有功能
- 将所有 Wafer Map 资料转档，转换为自动化系统处理
- 自动通过 ETL 转档所有合规的 CSV 档案
- 转档过程中自动统计并生成 Summary 基本统计资料
- 每片 Wafer 基本统计量进入数据库方便查询
- 每片 Wafer CSV 档案转存到 NAS，并记录档案位置
- 数据库内存储的数据方便产生生产报表与良率报表
- 提供 Data Query 画面，方便查询 Low Yield Wafer，并一键画出有问题的 Wafer Map
- 提供 Gallery Wafer Map 与 Composite Wafer Map 显示
FDC MAINTENANCE
FDC 预测性维护
FDC 解决方案使制程工程师不仅能够执行纠正性维护，而且还可以预测和主动地安排在故障发生之前进行修复，从而提高设备的安全性、可靠性，并降低维护成本。
例如，当已知良好衬底与已知 substrate 存在数据时，可以叠加传感器迹线帮助识别潜在根本原因。使用这种数据驱动的故障排除方式，可大幅提高操作可预测性，减少停机和不必要的零件更换。
- Fault Detection：即时机台异常侦测与管制
- Fault Classification：将异常分类，快速找出问题点，减少宕机时间
- 及时处理巨量数据
- 及时异常告警
- 快速诊断异常制程问题并改善
- 取得快速改善产品良率的优势
- 支持多维统计图表与报表自定义
- 适合工程团队、制造管理层与持续改善团队共同使用
CONTACT & CONVERSION
预约体验 Kyber Analysis
提交工厂场景、关注模块与项目阶段后，铠铂团队将安排平台能力沟通、方案交流与演示计划。